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SPM600系列半導體參數分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面,提供多種重要參數測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應速率測試。40μm 探測光斑,實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試,豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源,例如超連續(xù)白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導體激光器,鹵素燈,氙燈等,滿足不同探測器測試功能的要求。是半導體微納器件研究的優(yōu)選。

SPM600系列半導體參數分析儀功能:
■ 光譜響應度光源選項
卓立漢光根據樣品光譜相應范圍選擇適合的光源,如EQ 光源,氙燈光源,氙燈溴鎢燈復合光源。
EQ光源
特點:
■ 光譜范圍寬:190-1700nm寬光譜范圍;特點:
■ 光譜范圍寬:250-1700nm寬光譜范圍;特點:
■ 光譜范圍:250-2500nm
